全像干涉術測量物體的移動和轉動

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	魏漢東	en_US
dc.contributor.author	Wei, Han-Dong	en_US
dc.contributor.author	張明文	en_US
dc.contributor.author	Zhang, Ming-Wen	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-12T02:01:35Z	-
dc.date.available	2014-12-12T02:01:35Z	-
dc.date.issued	1979	en_US
dc.identifier.uri	http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT684430023	en_US
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/51170	-
dc.description.abstract	本文中所提出的測量方法，和一般的全像干涉的方法不同。本文中所使用的方法是調重現光束，使因物體的位移而產生條紋變寬，或者消逝。此外還用了另一個光源，當作額外的重現光束，用來度量原先重現光束高的改變量。由此改變量可以推算出物體的位移。	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.subject	全像干涉術	zh_TW
dc.subject	測量物體	zh_TW
dc.subject	移動和轉動	zh_TW
dc.subject	電子工程	zh_TW
dc.subject	ELECTRONIC-ENGINEERING	en_US
dc.title	全像干涉術測量物體的移動和轉動	zh_TW
dc.type	Thesis	en_US
dc.contributor.department	電子研究所	zh_TW
顯示於類別：	畢業論文