完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 陳振芳 | en_US |
dc.contributor.author | Chen, Zhen-Fang | en_US |
dc.contributor.author | 吳慶源 | en_US |
dc.contributor.author | Wu, Qing-Yuan | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:02:07Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:02:07Z | - |
dc.date.issued | 1980 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT694430038 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/51406 | - |
dc.description.abstract | 本文第一部份使用不同頻率的單色光以研究少數載子對高低濃度界面的反射特性。并 且利用頻率響應的曲線,直接將少數載子的擴散長度與生命週期與雜質濃度及溫度之 間的關係估計出來。 在第二部份中,本文針對開路電壓的溫度效應詳加討論,并以一簡化的式了模擬開路 電壓的溫度係數,進而估計出能階縮減效應與高濃度之關系。 在第三部份中,本文探討太陽電池的開路電壓對各種接觸表面特性的影響。本文證實 在表面上成長一層二氧化矽將會大大地提高太陽電池的開路電壓,同時根據短波長的 光響應亦可以證實表面結合速率的降低。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | PN接面 | zh_TW |
dc.subject | 太陽電池參數 | zh_TW |
dc.subject | 計測方法 | zh_TW |
dc.subject | 單色光 | zh_TW |
dc.subject | 反射特性 | zh_TW |
dc.subject | 二氧化矽 | zh_TW |
dc.subject | 電子工程 | zh_TW |
dc.subject | ELECTRONIC-ENGINEERING | en_US |
dc.title | PN接面太陽電池參數的計測方法 | zh_TW |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 電子研究所 | zh_TW |
顯示於類別: | 畢業論文 |