字串式結構的內藏自身測試之研究

Abstract

本論文提出一針對字串式結構的內藏自身測試（BIST）技術之設計與製作方法。 吾人已製作一開關級（Switch-level）模擬器，稱為BISTA ，用以簡化對內藏自身測 試的設計步驟；同時亦以「偵錯模擬器」的功能來處理系統驗證的工作。為了避免高 價的模擬過程，利用「修正限區」（MAL ）模型，提出了一套新的機率模式。加上導 出的預估方式，這一混合式的機率模式（DPM ）能預測字串結構的測試信度。 我們已完成了一8 位元，基一2 蝶式（radix-2 butterfly ）快速富式轉換（FFT ） 之內藏自身測試。利用軟體的模擬（BISTA ）與理論（DPM ）之預測所完成之BIST-F FT）呈現出低超額體（10％），高偵錯率（91％），低測試時間（數百個鐘週期）， 以及高簡易度與設計彈性。