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dc.contributor.author陳竹一en_US
dc.contributor.authorCHEN, ZHU-YIen_US
dc.contributor.author李崇仁en_US
dc.contributor.author沈文仁en_US
dc.contributor.author任建葳en_US
dc.contributor.authorLI, CHENG-RENen_US
dc.contributor.authorSHEN, WEN-RENen_US
dc.contributor.authorREN, JIAN-WEIen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:03:41Z-
dc.date.available2014-12-12T02:03:41Z-
dc.date.issued1985en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT742430038en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/52442-
dc.description.abstract本論文中,針對組合邏輯互補式金氧半電晶體電路,提出了一個將電晶體電路轉換成 閘級等效電路的程序。在這等效電路中,僅包含及閘、或閘和一個新定義的閘,「記 憶一變數器」。它們可以用來模擬大多數互補式金氧半電路的邏輯和故障行為。其中 包括完全互補金氧半電路、假負通道金氧半電路、脈鋅式互補金氧半電路、動態互補 金氧半電路、骨牌式互補金氧半電路、直串電壓交換式電路和無競走互補金氧半電路 等。 另外亦提出了一個合併故障的方法。這個方法能將故障數目減低到大約原來電晶體故 障的百分之十。最後,我們亦用「記憶─變數器」模擬傳輸閘邏輯。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject互補式zh_TW
dc.subject金氧半電晶體zh_TW
dc.subject電路zh_TW
dc.subject電晶體zh_TW
dc.subject等效電路zh_TW
dc.subject記憶變數器zh_TW
dc.title適合測試應用的互補式金氧半電晶體電路的等效閘級模型zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
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