Full metadata record
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 陳竹一 | en_US |
dc.contributor.author | CHEN, ZHU-YI | en_US |
dc.contributor.author | 李崇仁 | en_US |
dc.contributor.author | 沈文仁 | en_US |
dc.contributor.author | 任建葳 | en_US |
dc.contributor.author | LI, CHENG-REN | en_US |
dc.contributor.author | SHEN, WEN-REN | en_US |
dc.contributor.author | REN, JIAN-WEI | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:03:41Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:03:41Z | - |
dc.date.issued | 1985 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT742430038 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/52442 | - |
dc.description.abstract | 本論文中,針對組合邏輯互補式金氧半電晶體電路,提出了一個將電晶體電路轉換成 閘級等效電路的程序。在這等效電路中,僅包含及閘、或閘和一個新定義的閘,「記 憶一變數器」。它們可以用來模擬大多數互補式金氧半電路的邏輯和故障行為。其中 包括完全互補金氧半電路、假負通道金氧半電路、脈鋅式互補金氧半電路、動態互補 金氧半電路、骨牌式互補金氧半電路、直串電壓交換式電路和無競走互補金氧半電路 等。 另外亦提出了一個合併故障的方法。這個方法能將故障數目減低到大約原來電晶體故 障的百分之十。最後,我們亦用「記憶─變數器」模擬傳輸閘邏輯。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 互補式 | zh_TW |
dc.subject | 金氧半電晶體 | zh_TW |
dc.subject | 電路 | zh_TW |
dc.subject | 電晶體 | zh_TW |
dc.subject | 等效電路 | zh_TW |
dc.subject | 記憶變數器 | zh_TW |
dc.title | 適合測試應用的互補式金氧半電晶體電路的等效閘級模型 | zh_TW |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 電子研究所 | zh_TW |
Appears in Collections: | Thesis |