GO-CFAR檢測器性能分析

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	范光正	en_US
dc.contributor.author	Fan, Guang-Zheng	en_US
dc.contributor.author	陳正武	en_US
dc.contributor.author	吳永春	en_US
dc.contributor.author	Chen, Zheng-Wu	en_US
dc.contributor.author	Wu, Yong-Chun	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-12T02:04:02Z	-
dc.date.available	2014-12-12T02:04:02Z	-
dc.date.issued	1985	en_US
dc.identifier.uri	http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT744327001	en_US
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/52684	-
dc.description.abstract	本論文分析在不變及變化的環境下取大等謊報率(CO-CFAR) 檢測器的性能，此系統在環境雜訊改變之下能獲得一等量謊報機率。於檢測的過程中我們使用線性及平方律檢測器及Swerling第一組目標模式，並證明與均值等謊報率(CO-CFAR) 比較下此系統在散亂環境不連續時有較好的性能，但在有目標干擾之下其檢測性能變差，而在不變的環境下則兩者性能相近似。	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.subject	大等謊報率	zh_TW
dc.subject	均值等謊報率	zh_TW
dc.subject	檢測器	zh_TW
dc.subject	謊報率	zh_TW
dc.subject	自動控制工程	zh_TW
dc.subject	控制工程	zh_TW
dc.subject	電腦	zh_TW
dc.subject	CO-CFAR	en_US
dc.subject	CA-CFAR	en_US
dc.subject	AUTOMATED-CONTROL-ENGINEERING	en_US
dc.subject	CONTROL-ENGINEERING	en_US
dc.subject	COMPUTER	en_US
dc.title	GO-CFAR檢測器性能分析	zh_TW
dc.title	The performance analysis of the Go-Cfar detectors	en_US
dc.type	Thesis	en_US
dc.contributor.department	電控工程研究所	zh_TW
顯示於類別：	畢業論文