标题: | 一个在交换阶层的故障模拟器 A switch-level fault simulator (fmossim) |
作者: | 许孟烈 Xu, Meng-Lie 李崇仁 沈文仁 Li, Chong-Ren Shen, Wen-Ren 电子研究所 |
关键字: | 阶层;故障;模拟器;故障模拟器;电子工程;ELECTRONIC-ENGINEERING |
公开日期: | 1985 |
摘要: | 本篇论文描述了两种故障模拟器……推导式故障摸拟器和同时式故障模拟器,我们建 构了一个在交换阶层的推导式故障模拟器,并依做成同时式故障模拟器,它提供了节 点和电晶体的故障模型,并解决了电晶体故障在模拟过程中的侦测问题,最后,此故 障模拟器产生了一个故障辞典,它可以用来计算一个测试系列的故障函盖率,并列出 每一个测试样本所侦测到的故障。 |
URI: | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT744430003 http://hdl.handle.net/11536/52687 |
显示于类别: | Thesis |