标题: 一个在交换阶层的故障模拟器
A switch-level fault simulator (fmossim)
作者: 许孟烈
Xu, Meng-Lie
李崇仁
沈文仁
Li, Chong-Ren
Shen, Wen-Ren
电子研究所
关键字: 阶层;故障;模拟器;故障模拟器;电子工程;ELECTRONIC-ENGINEERING
公开日期: 1985
摘要: 本篇论文描述了两种故障模拟器……推导式故障摸拟器和同时式故障模拟器,我们建
构了一个在交换阶层的推导式故障模拟器,并依做成同时式故障模拟器,它提供了节
点和电晶体的故障模型,并解决了电晶体故障在模拟过程中的侦测问题,最后,此故
障模拟器产生了一个故障辞典,它可以用来计算一个测试系列的故障函盖率,并列出
每一个测试样本所侦测到的故障。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT744430003
http://hdl.handle.net/11536/52687
显示于类别:Thesis