為提供超大型積體電路設計而建立的高性能且可測試的互補式金氧半可程式化邏輯陣列的自動產生器

Abstract

本篇論文在討論可程式化邏輯陣列的計算機輔助設計，我們提出了四種互補式金氧半 的可程式化邏輯陣列的線路，然後分析他們的特性，來改進他們的性能，並使其具備 可測試的能力。 線路設計者可依據其主要支配的因素－面積或拖延時間，以及程式所提供的面積，延 遲時間，消耗功率的資料，或是他自己的時序需要來選擇一個理想的可程式化邏輯陣 列的線路，並且能夠很快地得到此線的積體電路佈局。