Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | 宋弘政 | en_US |
dc.contributor.author | SONG, HONG-ZHENG | en_US |
dc.contributor.author | 謝正雄 | en_US |
dc.contributor.author | XIE, ZHENG-XIONG | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:05:22Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:05:22Z | - |
dc.date.issued | 1988 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT772123026 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/53678 | - |
dc.description.abstract | 我們利用V 槽底會累積較多沈積物的特性開發出一種新的製程技術,用此技術可以在 交大半導體中心製造出通道長只有0.8的MOSFET,除此之外我們尚可同時用lift-o -ff 技術來增加元件密度,此電晶體特別的地方在於它的 V型閘極結構與傳統的平面 閘極不同。 根據理論分析,V 型閘極的MOSFET可以承受較大的工作電壓和有較大的傳導係數,從 實驗結果可以証實部分的理論推測,如閘極氧化層厚度400A 和通道長0.8的V 型MOSFET,其BV= 10.5V ,gm=35ms╱mm 。 我們利用V 槽底會累積較多沈積物的特性開發出一種新的製程技術,用此技術可以在 交大半導體中心製造出通道長只有0.8的MOSFET,除此之外我們尚可同時用lift-o -ff 技術來增加元件密度,此電晶體特別的地方在於它的V 型閘極結構與傳統的平面 閘極不同。 根據理論分析,V 型閘極的MOSFET可以承受較大的工作電壓和有較大的傳導係數,從 實驗結果可以証實部分的理論推測,如閘極氧化層厚度400A 和通道長0.8的V 型MOSFET,其BV=10.5V,gm=35ms╱mm。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 電晶體 | zh_TW |
dc.subject | 製程技術 | zh_TW |
dc.subject | 短通道 | zh_TW |
dc.subject | 場效 | zh_TW |
dc.subject | 閘極 | zh_TW |
dc.subject | V | en_US |
dc.subject | V | en_US |
dc.subject | MOSFET | en_US |
dc.subject | LIFT-OFF | en_US |
dc.title | 短通道V型場效電晶體 | zh_TW |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 光電工程學系 | zh_TW |
Appears in Collections: | Thesis |