標題: 雙擴散汲極短通道V型場效電晶體
作者: 王志強
WANG,ZHI-QING
謝正雄
XIE,ZHENG-XIONG
光電工程學系
關鍵字: 雙擴散汲極;短通道;V型場效電晶體;被晶矽沉積層;回蝕(ETCHING-BAC;曝光技術;短通道元件;崩潰電壓;VVMOS(V-GROOVE-VERTEX-MOS)
公開日期: 1990
摘要: 利用複晶矽沉積層於V槽尖端厚於其它部份的特性,加上回蝕(Etching-Back)技術 , 我們可不須利用昂貴複雜的曝光技術而製造出短通道元件。VVMOS(V-Groove Ver- tex MOS )有較大的崩潰電壓及傳導電導, 加上雙擴散汲極結構, 我們製造出最小通 道長度0.6μm, 崩潰電壓9V、gm=35ms╱mm 的元件, 而最大崩潰電壓的元件乃DVVMOS (1E14)、L=1.2μm、V =14V. 其臨界電壓較平面型元件為大, 亦可利用一簡單模 型預測之。 我們將藉著這些元件來觀察短通道效應, 進而對DVVMOS的一些特性作探討。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT792124037
http://hdl.handle.net/11536/55228
顯示於類別:畢業論文