完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 陳雲 | en_US |
dc.contributor.author | CHEN,YUN | en_US |
dc.contributor.author | 任建葳 | en_US |
dc.contributor.author | REN,JIAN-WEI | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:07:11Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:07:11Z | - |
dc.date.issued | 1989 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT782430087 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/54696 | - |
dc.description.abstract | 本論文的主要目的是針對複雜的邏輯陣列系數找一個有系統且簡單的錯誤偵測與定位 的方法。我們發展出一個可常數測試樣本的產生法則, 它可適用於任何的邏輯陣列結 構, 只要陣列的細胞是相同的, 這方法是經由參考一個規則的轉態圖, 去考慮測試樣 本的控制與觀察能力。此外, 我們還介紹一些如何能使邏輯陣列做可常數測試的策略 , 這些策略對設計一個可常數測試的陣列有很大的幫助。關於錯誤定位, 我們提出了 幾個方法, 第一個方法是利用前文所提到的法則, 去產生重覆的測試樣本以增加其控 制能力, 并找出定位樣本的次序。另一個方法提出了一個錯誤傳送表, 它能分辨細胞 的錯誤輸出是從那一個輸入傳進來的, 利用這些資料我們可以一層層往回找尋錯誤的 來源。最後, 我們結合這兩個方法的特點, 設計出一個近似可常數定位的方法, 這方 法可利用錯誤偵測的結果去定出錯誤的位置, 不須再加送額外的測試樣本, 而這些樣 本的數目仍是個常數, 但對於某些特定的錯誤這方法仍不適用, 須引用第一個方法加 以輔助。以上這些方法, 不僅能確定這陣列中是那一個細胞出錯, 也可知道這細胞中 的那一條線出錯, 使我們能更準確的知道真正錯誤的位置與原因。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 邏輯陣列 | zh_TW |
dc.subject | 錯誤偵測 | zh_TW |
dc.subject | 定位 | zh_TW |
dc.subject | 細胞 | zh_TW |
dc.subject | 錯誤傳送表 | zh_TW |
dc.subject | 可常數定位 | zh_TW |
dc.title | 邏輯陣列的錯誤偵測與定位 | zh_TW |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 電子研究所 | zh_TW |
顯示於類別: | 畢業論文 |