標題: | 雙擴散汲極短通道V型場效電晶體 |
作者: | 王志強 WANG,ZHI-QING 謝正雄 XIE,ZHENG-XIONG 光電工程學系 |
關鍵字: | 雙擴散汲極;短通道;V型場效電晶體;被晶矽沉積層;回蝕(ETCHING-BAC;曝光技術;短通道元件;崩潰電壓;VVMOS(V-GROOVE-VERTEX-MOS) |
公開日期: | 1990 |
摘要: | 利用複晶矽沉積層於V槽尖端厚於其它部份的特性,加上回蝕(Etching-Back)技術 , 我們可不須利用昂貴複雜的曝光技術而製造出短通道元件。VVMOS(V-Groove Ver- tex MOS )有較大的崩潰電壓及傳導電導, 加上雙擴散汲極結構, 我們製造出最小通 道長度0.6μm, 崩潰電壓9V、gm=35ms╱mm 的元件, 而最大崩潰電壓的元件乃DVVMOS (1E14)、L=1.2μm、V =14V. 其臨界電壓較平面型元件為大, 亦可利用一簡單模 型預測之。 我們將藉著這些元件來觀察短通道效應, 進而對DVVMOS的一些特性作探討。 |
URI: | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT792124037 http://hdl.handle.net/11536/55228 |
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