易測試之(2□+1)餘數乘法器設計

Abstract

（２□＋１）餘數乘法器在很多應用上都是很重要的運算，例如假亂數之產生、密 碼、Fermat數轉換及餘數系。為了設計方便，我們首先推導出兩種能將（ｎ＋１） 位元運算子轉換為ｎ位元運算子的方法，接著我們設計了一新的ｎ位元餘數乘法器 。結合此一乘法器和前面兩種轉換法，我們可以得到兩個適合超大型積體電路製作 的架構，在完成全客戶佈局和模擬後，我們發現新架構只需要較少的面積但卻能有 較高的速度。最後我們在稍許修改電路後，使得此二乘法器很容易測試；經過修改 後，其中一個乘法器為C-可測(C-testable)，另一乘法器的測試樣本數則只和ｎ成 線性關係。