分散式處理之序向電路測試圖樣產生器

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DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	王信華	en_US
dc.contributor.author	WANG, XIN-HUA	en_US
dc.contributor.author	李崇仁	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-12T02:11:10Z	-
dc.date.available	2014-12-12T02:11:10Z	-
dc.date.issued	1992	en_US
dc.identifier.uri	http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT812430001	en_US
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/57294	-
dc.description.abstract	本篇論文中，針對序向電路，我們提出兩種方法來平行處理測試圖樣的產生，第一種是使用多重啟發搜尋(multiple heuristics search)的方式，第二種方法是對障礙做切割平行處理。根據以上所提的兩種方法，我們再以網路連接的SUN Classic 工作站上用Ｃ語言寫成程式，實驗結果顯示，分散式處理可以得到較佳的效率。	zh_TW
dc.language.iso	en_US	en_US
dc.subject	分散式處理	zh_TW
dc.subject	電路	zh_TW
dc.title	分散式處理之序向電路測試圖樣產生器	zh_TW
dc.title	The distributed test generation for sequential circuits	en_US
dc.type	Thesis	en_US
dc.contributor.department	電子研究所	zh_TW
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