基於光罩式唯讀記憶體架構之省時結構化測試法

標題:	基於光罩式唯讀記憶體架構之省時結構化測試法 A Time_Saving Structural Testing Scheme For Mask_ROM
作者:	吳聰志 Tsung-Chin Wu 李崇仁 Chung-Len Lee 電子研究所
關鍵字:	唯讀記憶體 , 故障 , 測試 .;ROM , failure , test .
公開日期:	1993
摘要:	利用對光罩式唯讀記憶體之故障模式的分析 ,可以將測試向量做一最佳化的安排 , 以及早偵測出故障的晶片 , 減低測試時間 . The analysis of the failure modes of mask_ROM leads to the optimal test vectors flow plan to reduce test time .
URI:	http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT820430009 http://hdl.handle.net/11536/58005
顯示於類別：	畢業論文