標題: Electro─optic RF Standing Wave Measurement Technique and its Applications
作者: 蔡甲文
Cai, Jia-Wen
潘犀靈
Pan, Xi-Ling
光電工程學系
關鍵字: 光電工程;光學;光電鎖相;電光取樣技術;反射係數;色射特性;電壓駐波比;OPTI-ELECTRONIC-ENGINEERING;OPTICS
公開日期: 1995
摘要: 我們首次使用以半導體雷射為光源的光電鎖相及電光取樣技術,成功地測量了砷化鎵 微帶線上的高頻駐波到16GHz。這個技術使得我們可以很方便且精確地,得知微波傳 輸線的特性,諸如:電壓駐波比、反射係數和色散特性等重要參數。利用我們的技術 在相位量測上的優越露敏度,我們分析了4GHz到16GHz的駐波相位,並且得知了砷化 鎵微帶線的色散特性及反射係數。這些結果和理論值相當地吻合。我們也擴展這個技 術,對一段傳輸線作了S參數量測。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT844124005
http://hdl.handle.net/11536/61152
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