完整後設資料紀錄
DC 欄位語言
dc.contributor.author張駿逸en_US
dc.contributor.authorChun-Yi Changen_US
dc.contributor.author洪志真en_US
dc.contributor.authorJyh-Jen Horng Shiauen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:27:33Z-
dc.date.available2014-12-12T02:27:33Z-
dc.date.issued2001en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT900337001en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/68381-
dc.description.abstract傳統管制圖的建構,常假設製程觀測值是具獨立性,然而在實務上卻有許多情形違背此假設。此類不具獨立性的「相關型製程資料」文獻中,對於「製程均值」的研究遠多於「製程變異」;而在針對製程變異的探討中,又以使用「殘差」來監控居多。本研究的目的即是針對相關型資料製程變異監控的問題上,提出一個不使用殘差做管制圖的新方法-移動樣本變異管制圖。經由數值實例和統計模擬,可證實所提出的管制圖,對於相關型資料製程變異有不錯的偵測能力。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject相關性製程zh_TW
dc.subject製程變異zh_TW
dc.subject移動樣本變異管制圖zh_TW
dc.title一個新相關性製程變異監控方法之研究zh_TW
dc.titleA New Variability-monitoring Scheme for Correlated Processesen_US
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department統計學研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文