標題: 遠場下確認次波長尺度變化的方法之研發(II)
Development of the Characterization Schemes of Subwavelength Variation from Far-Field Characteristics (II)
作者: 陳志隆
CHERN JYH-LONG
交通大學光電工程研究所
公開日期: 2006
官方說明文件#: NSC95-2221-E009-293
URI: http://hdl.handle.net/11536/89676
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1309582&docId=242007
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