遠場下確認次波長尺度變化的方法之研發(I)

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	陳志隆	en_US
dc.contributor.author	CHERN JYH-LONG	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-13T10:30:56Z	-
dc.date.available	2014-12-13T10:30:56Z	-
dc.date.issued	2005	en_US
dc.identifier.govdoc	NSC94-2215-E009-036	zh_TW
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/90573	-
dc.identifier.uri	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1143920&docId=219386	en_US
dc.description.abstract	因為次波長(subwavelength)尺度變化的界定之重要性，我們基於先前的初步研究成果提出一個二年計畫。預計針對次波長度變化就遠場下繞射的特徵作界定、並進而開發利用遠場繞射特徵去回溯繞射孔徑的次波長度變化的各個可能方法。	zh_TW
dc.description.sponsorship	行政院國家科學委員會	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.title	遠場下確認次波長尺度變化的方法之研發(I)	zh_TW
dc.title	Development of the Characterization Schemes of Subwavelength Variation From Far-Field Characteristics (I)	en_US
dc.type	Plan	en_US
dc.contributor.department	交通大學光電工程研究所	zh_TW
顯示於類別：	研究計畫

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