標題: | 超薄閘極氧化層CMOS元件軟崩潰效應研究(II) In-Depth Study of Soft Breakdown Effects in Ultra-Thin Oxide CMOS (II) |
作者: | 汪大暉 WANG TAHUI 國立交通大學電子工程學系 |
公開日期: | 2003 |
官方說明文件#: | NSC92-2215-E009-024 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/92178 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=873444&docId=167328 |
顯示於類別: | 研究計畫 |