標題: 超薄閘極氧化層CMOS元件軟崩潰效應研究(II)
In-Depth Study of Soft Breakdown Effects in Ultra-Thin Oxide CMOS (II)
作者: 汪大暉
WANG TAHUI
國立交通大學電子工程學系
公開日期: 2003
官方說明文件#: NSC92-2215-E009-024
URI: http://hdl.handle.net/11536/92178
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=873444&docId=167328
顯示於類別:研究計畫


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