標題: 超薄閘極氧化層CMOS元件軟崩潰效應研究(I)
In-Depth Study of Soft Breakdown Effects in Ultra-Thin Oxide CMOS (I)
作者: 汪大暉
WANG TAHUI
交通大學電子工程系
公開日期: 2002
官方說明文件#: NSC91-2215-E009-049
URI: http://hdl.handle.net/11536/92610
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=784421&docId=150775
顯示於類別:研究計畫


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