標題: | 超薄閘極氧化層CMOS元件軟崩潰效應研究(I) In-Depth Study of Soft Breakdown Effects in Ultra-Thin Oxide CMOS (I) |
作者: | 汪大暉 WANG TAHUI 交通大學電子工程系 |
公開日期: | 2002 |
官方說明文件#: | NSC91-2215-E009-049 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/92610 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=784421&docId=150775 |
顯示於類別: | 研究計畫 |