标题: 寄生氧化层对具有原子层平坦之超薄氧化层的影响
The Effect of Native Oxide on Ultra-Thin Oxide (1.5-2.5nm) with Atomically Smooth Interface
作者: 荆凤德
CHIN ALBERT
交通大学电子工程系
关键字: 寄生氧化层;超薄氧化层;迁移率;Native oxide;Ultra-thin oxide;Mobility
公开日期: 2000
官方说明文件#: NSC89-2215-E009-071
URI: http://hdl.handle.net/11536/93917
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=542127&docId=99589
显示于类别:Research Plans


文件中的档案:

  1. 892215E009071.pdf

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