标题: 对以智财单元为基系统晶片设计之验证与测试技术开发研究---子计画I:与组织探索阶段互动之系统阶层验证技术
System-Level Verification Interacting with Architecture Exploration
作者: 董兰荣
Dung Lan-Rong
交通大学电机与控制工程系
关键字: 晶片设计;验证技术;系统阶层;Chip design;Verification technology;System level
公开日期: 2001
官方说明文件#: NSC90-2215-E009-083
URI: http://hdl.handle.net/11536/96685
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=665762&docId=126389
显示于类别:Research Plans


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