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2011EDA和測試方法之於先進CMOS製程技術變異的特性分析與降低化羅增錦; Luo, Tseng-Chin; 趙家佐; Chao, Mango C.-T.; 電子研究所
2008NROM 記憶體之新測試流程鄒耀德; 趙家佐; 林昇甫; Chia-Tso Chao; Sheng-Fuu Lin; 電機學院電機與控制學程
1999以機率方式解時間切換式現場可程式化邏輯閘陣列之分割問題趙家佐; Mango Chia-Tso Chao; 張耀文; Yao-Wen Chang; 資訊科學與工程研究所
2014以資料分析為導向之新型態電子設計自動化研究---子計畫六：應用於最低操作電壓認定與系統錯誤預測之資料探勘平台( I )趙家佐; Chao Mango Chia-Tso; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2012低功耗前瞻靜態隨機記憶體之測試方法與錯誤模型林政偉; Lin, Chen-Wei; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2014使用晶片內部硬體製程監控器作速度分級之最佳化技巧沈桓丞; Shen, Heng-Cheng; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2017使用機器學習技術進行動態電壓與頻率調整測試分級張耕瑋; 趙家佐; Chang, Keng-Wei; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2015使用閂鎖比較器快速量測臨界電壓變異數之 WAT測試電路李高騏; Lee, Kao-Chi; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2015利用平行測量與模型化隨機森林預測臨界電壓平均數與變異數蔡知螢; Tsai, Chih-Ying; 趙家佐; Chao, Mango Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2010利用掃描鏈重新排序增加橋接錯誤故障涵蓋率架構在低功率固定錯誤樣式填充郭淳仁; Kuo, Chun-Ren; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2016利用模型擬合方法預測環狀振盪器之臨界電壓變異數與靜態IR壓降黃子軒; 趙家佐; Huang, Tzu-Hsuan; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2010利用虛擬金屬填充提昇晶片中訊號可觀察性涂偉勝; Tu, Wei-Sen; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2008利用重新排列掃描元件減低掃描位移功率趙家佐; Chao Mango Chia-Tso; 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
2014前瞻性嵌入式記憶體之錯誤模型與測試方法：業界實例探討楊皓宇; Yang, Hao-Yu; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2016前瞻性設計中解決性能及低功率議題的測試方法穆思邦; 趙家佐; Mu, Szu-Pang; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2016單元識別及雙單元識別測試之產生方法黃宇豪; 趙家佐; Huang, Yu-Hao; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2010國立交通大學電子工程學系趙家佐教師升等送審著作論文集趙家佐
2017基於佈局之雙單元識別測試產生方法吳則緯; 趙家佐; Wu, Tse-Wei; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2017基於漏電流統計分析程序與異常值偵測技術之穩態電流測試流程溫承諺; 趙家佐; Wen, Cheng-Yen; 電子研究所
2014基於量測電晶體特性之預測曝光層級靜態隨機存取記憶體讀寫容限賓恕雍; Bin, Shu-Yung; 趙家佐; Mango Chia-Tso Chao; 電子工程學系 電子研究所
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