標題: 平面及鰭狀場效電晶體高階奈米缺陷統計物理模式:隨機電報雜訊和偏壓溫度不穩度
Advanced Nanoscale Defect Statistical Model for Random Telegraph Signals and Bias and Temperature Instabilities in Planar Mosfets and FinFETs
作者: 陳明哲
CHEN MING-JER
國立交通大學電子工程學系及電子研究所
公開日期: 2015
官方說明文件#: MOST104-2221-E009-058-MY3
URI: http://hdl.handle.net/11536/129960
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11588143&docId=473262
顯示於類別:研究計畫