標題: 全像干涉術測量物體的移動和轉動
作者: 魏漢東
Wei, Han-Dong
張明文
Zhang, Ming-Wen
電子研究所
關鍵字: 全像干涉術;測量物體;移動和轉動;電子工程;ELECTRONIC-ENGINEERING
公開日期: 1979
摘要: 本文中所提出的測量方法,和一般的全像干涉的方法不同。本文中所使用的方法是調 重現光束,使因物體的位移而產生條紋變寬,或者消逝。此外還用了另一個光源,當 作額外的重現光束,用來度量原先重現光束高的改變量。由此改變量可以推算出物體 的位移。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT684430023
http://hdl.handle.net/11536/51170
顯示於類別:畢業論文