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dc.contributor.author王隆慶en_US
dc.contributor.authorWang, Long-Qingen_US
dc.contributor.author謝正雄en_US
dc.contributor.authorXie, Zheng-Xiongen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:01:36Z-
dc.date.available2014-12-12T02:01:36Z-
dc.date.issued1979en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT684430026en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/51173-
dc.description.abstract本論文綜合鐵電場效應與焦電效應。利用蒸鍍在PZT 陶瓷、LiTaO3單晶和玻璃片上之 Te薄膜之性質來研究此綜合效應。從各種觀察,我們證實此綜合效應存在,而且得到 焦電係數和載子動率之關係。靜態和動態測量得到不同結果的Te薄膜導電性,同時指 出鐵電基座兩邊間電荷之流動造成了令人驚奇的結果。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject蒸鍍zh_TW
dc.subjectPZT陶瓷zh_TW
dc.subjectLiTaO3單晶基座zh_TW
dc.subjectTe薄膜焦電特性zh_TW
dc.subject電子工程zh_TW
dc.subjectELECTRONIC-ENGINEERINGen_US
dc.title蒸鍍在PZT陶瓷和LiTaO3單晶基座上Te薄膜焦電特性之研究zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文