標題: 正負接面之數值研究
作者: 張玲月
Zhang, Ling-Yue
郭雙發
Guo, Shuang-Fa
電子研究所
關鍵字: 正負接面;數值分析程式;半導體元件;元件;蕭克萊半導體方程;電學特性;準費米電位;空乏電位;電子工程;ELECTRONIC-ENGINEERING
公開日期: 1982
摘要: 本文針對半導體元件發展出一維的數值分析程式,此程式明確地陳述如何解蕭克萊半 導體方程,這些方程包括:電子及電洞的傳渡方程式,連續方程式及帕松方程式;而 且以電洞的準費米電位及空乏電位為變數。在模擬電學特性時把與濃度及電場相關的 移動率、高濃度時產生的能隙縮小和多陷阱復合均考慮在內。本文將呈現正負接面的 內部分佈、電容一電壓特性、電流一電壓特性以及暫電態流與斷路電壓衰減等結果, 並且特別討論電學特性受陷阱濃度之影響。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT714428004
http://hdl.handle.net/11536/51723
顯示於類別:畢業論文