完整後設資料紀錄
DC 欄位語言
dc.contributor.author張文岳en_US
dc.contributor.authorZhang, Wen-Yueen_US
dc.contributor.author吳重雨en_US
dc.contributor.authorWu, Zhong-Yuen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:02:49Z-
dc.date.available2014-12-12T02:02:49Z-
dc.date.issued1983en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT724430006en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/51842-
dc.description.abstract本文提出一種新型SPICE 參數提取法。經由此法所得參數不需大的變動便能得到和實 驗值相若的模擬結果,而免除了複雜的最佳化調整程序,且所得誤差也很小。另一種 經由數位積體電路時序關係而求出移動率及電容性參數的方法也同時提出來討論。將 此種新型提取法所得的參數輸入SPICE ,其所得的時序模擬結果和測量結果相差不遠 ,由這些初步探索的結果得知,經由時序關係所得參數在暫態下有很大的意義,值得 深入研究。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject參數zh_TW
dc.subject參數提取法zh_TW
dc.subject模擬zh_TW
dc.subject積體電路zh_TW
dc.subject電子工程zh_TW
dc.subjectSPICEen_US
dc.subjectELECTRONIC-ENGINEERINGen_US
dc.title一個新型SPICE 參數提取法zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文