Full metadata record
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 廖宜智 | en_US |
dc.contributor.author | LIAO, YI-ZHI | en_US |
dc.contributor.author | 陳茂傑 | en_US |
dc.contributor.author | CHEN, MAO-JIE | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:03:06Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:03:06Z | - |
dc.date.issued | 1984 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT732430003 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/52052 | - |
dc.description.abstract | 矽化鎢╱複晶矽薄膜由於它具有低電阻及可被氧化的特性,使得它在超大型積體電路 中,被用作場效電晶體的閘電極及元牛間之導線的機會愈加濃厚,其重要性已不可忽 略,矽化鎢薄膜係以雙電子槍蒸鍍系統備置而成,其中矽與鎢的原子數比介於2.1 和 2.8 之間。蒸鍍形成的矽化鎢╱複晶矽薄膜經過65 ℃到1100 ℃的各種高溫,配合不 同時間間燒結而成之後,再針對其各種特性,諸如:表面狀況、黏附性、片電阻和氧 化等進行研究和分析。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 矽化鎢 | zh_TW |
dc.subject | 複晶矽 | zh_TW |
dc.subject | 蒸鍍系統 | zh_TW |
dc.title | 矽化鎢薄膜在複晶矽上的特性 | zh_TW |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 電子研究所 | zh_TW |
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