標題: | 多層結構矽化鎢之特性 |
作者: | 饒鴻麟 RAO, HONG-LIN 邱碧秀 GIU, BI-XIU 電子研究所 |
關鍵字: | 矽化鎢;鎢;積體電路 |
公開日期: | 1985 |
摘要: | 在積體電路中,矽化鎢經常被用作內部連線,如鎢含量較高時,則有相當嚴重的掀裂 及氧化問題。本報告即在探討多層結構矽化鎢之應用,以防止掀裂及氧化。 多層結構矽化鎢被證實能防止鎢的氧化,而分段退火則可避免掀裂,且能維持矽化鎢 的低電阻特性。 |
URI: | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT742430016 http://hdl.handle.net/11536/52418 |
顯示於類別: | 畢業論文 |