標題: 多層結構矽化鎢之特性
作者: 饒鴻麟
RAO, HONG-LIN
邱碧秀
GIU, BI-XIU
電子研究所
關鍵字: 矽化鎢;鎢;積體電路
公開日期: 1985
摘要: 在積體電路中,矽化鎢經常被用作內部連線,如鎢含量較高時,則有相當嚴重的掀裂 及氧化問題。本報告即在探討多層結構矽化鎢之應用,以防止掀裂及氧化。 多層結構矽化鎢被證實能防止鎢的氧化,而分段退火則可避免掀裂,且能維持矽化鎢 的低電阻特性。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT742430016
http://hdl.handle.net/11536/52418
顯示於類別:畢業論文