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dc.contributor.author許孟烈en_US
dc.contributor.authorXU, MENG-LIEen_US
dc.contributor.author李崇仁en_US
dc.contributor.author沈文仁en_US
dc.contributor.authorLI, CHONG-RENen_US
dc.contributor.authorSHENG, WEN-RENen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:03:39Z-
dc.date.available2014-12-12T02:03:39Z-
dc.date.issued1985en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT742430002en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/52403-
dc.description.abstract本篇論文描述了兩種故障模擬器……推導式故障摸擬器和同時式故障模擬器，我們建 構了一個在交換階層的推導式故障模擬器，並依做成同時式故障模擬器，它提供了節 點和電晶體的故障模型，並解決了電晶體故障在模擬過程中的偵測問題，最後，此故 障模擬器產生了一個故障辭典，它可以用來計算一個測試系列的故障函蓋率，並列出 每一個測試樣本所偵測到的故障。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject階層zh_TW
dc.subject故障zh_TW
dc.subject模擬器zh_TW
dc.subject故障模擬器zh_TW
dc.title一個在交換階層的故障模擬器zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
顯示於類別：畢業論文


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