標題: 適合測試應用的互補式金氧半電晶體電路的等效閘級模型
作者: 陳竹一
CHEN, ZHU-YI
李崇仁
沈文仁
任建葳
LI, CHENG-REN
SHEN, WEN-REN
REN, JIAN-WEI
電子研究所
關鍵字: 互補式;金氧半電晶體;電路;電晶體;等效電路;記憶變數器
公開日期: 1985
摘要: 本論文中,針對組合邏輯互補式金氧半電晶體電路,提出了一個將電晶體電路轉換成 閘級等效電路的程序。在這等效電路中,僅包含及閘、或閘和一個新定義的閘,「記 憶一變數器」。它們可以用來模擬大多數互補式金氧半電路的邏輯和故障行為。其中 包括完全互補金氧半電路、假負通道金氧半電路、脈鋅式互補金氧半電路、動態互補 金氧半電路、骨牌式互補金氧半電路、直串電壓交換式電路和無競走互補金氧半電路 等。 另外亦提出了一個合併故障的方法。這個方法能將故障數目減低到大約原來電晶體故 障的百分之十。最後,我們亦用「記憶─變數器」模擬傳輸閘邏輯。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT742430038
http://hdl.handle.net/11536/52442
顯示於類別:畢業論文