標題: 從實測之散射參數求得大信號SPICE砷化鎵MESFET模型之最佳化
作者: 劉復
LIU, FU
莊晴光
ZHUANG, GIN-GUANG
電信工程研究所
關鍵字: 散射參數;砷化鎵;晶體模型;寬頻參數;信號
公開日期: 1987
摘要: 本文提出一理想的大信號SPICE 砷化錠MESFET模型,它適用於大信號與小信號MMIC電 路之 I- V測量值,然後再利用最佳化方法調整晶體模型內的敏感參數,以吻合實際 從 1到25GHz ,在某個偏壓下,所測得之散射參數。由此所之大信號SPICE 砷化錠ME SFET模型,亦能正確地預測在其他不同偏壓時的散射參數。本文中所提之晶體模型和 寬頻參數最佳化之概念,能使得SPICE 程式更有效地被應用於某些MMIC電路之設計, 譬如寬頻的Traveling Amplifier 以及大動態變化之放大器。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT762436016
http://hdl.handle.net/11536/53471
顯示於類別:畢業論文