利用P與S電場的反射係數比來量測折射率

Abstract

藉光的Ｐ電場與Ｓ電場在介質反射后所構成的不同，以推測介質的折射率，利用Fre- snel方程式導出薄膜多重反射後的P.S 之反射係數比，並求得其對入射光偏極態的改 變，以繪出其在各入射角的特性曲線，此為測量的理論依據。偏極光片與1╱4波長波 片可用來調整入射光的偏極性，旋轉偏極光片，分別測量入射光及出射光在各入射角 度下的亮度分布，根據各角度亮度的分布以測其偏極態，並求出射光與入射光偏極態 比。利用外插法求其Brewster角, 並反求其折射率，以此為初值，代入理論，再求最 佳值。選一載波片作測試此法的可行性。此法至少有三位有效數，但較之一般的折射 計方便且不須破壞待測物。