標題: | 分散式處理之序向電路測試圖樣產生器 The distributed test generation for sequential circuits |
作者: | 王信華 WANG, XIN-HUA 李崇仁 電子研究所 |
關鍵字: | 分散式處理;電路 |
公開日期: | 1992 |
摘要: | 本篇論文中,針對序向電路,我們提出兩種方法來平行處理測試圖樣的產生,第一 種是使用多重啟發搜尋(multiple heuristics search)的方式,第二種方法是對障 礙做切割平行處理。 根據以上所提的兩種方法,我們再以網路連接的SUN Classic 工作站上用C語言寫 成程式,實驗結果顯示,分散式處理可以得到較佳的效率。 |
URI: | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT812430001 http://hdl.handle.net/11536/57294 |
顯示於類別: | 畢業論文 |