標題: 分散式處理之序向電路測試圖樣產生器
The distributed test generation for sequential circuits
作者: 王信華
WANG, XIN-HUA
李崇仁
電子研究所
關鍵字: 分散式處理;電路
公開日期: 1992
摘要: 本篇論文中,針對序向電路,我們提出兩種方法來平行處理測試圖樣的產生,第一 種是使用多重啟發搜尋(multiple heuristics search)的方式,第二種方法是對障 礙做切割平行處理。 根據以上所提的兩種方法,我們再以網路連接的SUN Classic 工作站上用C語言寫 成程式,實驗結果顯示,分散式處理可以得到較佳的效率。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT812430001
http://hdl.handle.net/11536/57294
顯示於類別:畢業論文