标题: 分散式处理之序向电路测试图样产生器
The distributed test generation for sequential circuits
作者: 王信华
WANG, XIN-HUA
李崇仁
电子研究所
关键字: 分散式处理;电路
公开日期: 1992
摘要: 本篇论文中,针对序向电路,我们提出两种方法来平行处理测试图样的产生,第一
种是使用多重启发搜寻(multiple heuristics search)的方式,第二种方法是对障
碍做切割平行处理。
根据以上所提的两种方法,我们再以网路连接的SUN Classic 工作站上用C语言写
成程式,实验结果显示,分散式处理可以得到较佳的效率。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT812430001
http://hdl.handle.net/11536/57294
显示于类别:Thesis