标题: | 分散式处理之序向电路测试图样产生器 The distributed test generation for sequential circuits |
作者: | 王信华 WANG, XIN-HUA 李崇仁 电子研究所 |
关键字: | 分散式处理;电路 |
公开日期: | 1992 |
摘要: | 本篇论文中,针对序向电路,我们提出两种方法来平行处理测试图样的产生,第一 种是使用多重启发搜寻(multiple heuristics search)的方式,第二种方法是对障 碍做切割平行处理。 根据以上所提的两种方法,我们再以网路连接的SUN Classic 工作站上用C语言写 成程式,实验结果显示,分散式处理可以得到较佳的效率。 |
URI: | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT812430001 http://hdl.handle.net/11536/57294 |
显示于类别: | Thesis |