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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Lee, CL
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顯示 41 到 60 筆資料,總共 124 筆
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公開日期
標題
作者
1997
Functional test pattern generation for CMOS operational amplifier
Chang, SJ
;
Lee, CL
;
Chen, JE
;
交大名義發表
;
電子工程學系及電子研究所
;
National Chiao Tung University
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-2003
Growing high-performance tunneling oxide by CF4 plasma pretreatment
Chang, TY
;
Lee, JW
;
Lei, TF
;
Lee, CL
;
Wen, HC
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-四月-2001
High reliability polyoxide fabricated by using TEOS oxide deposited on disilane polysilicon film
Lee, JW
;
Lee, CL
;
Lei, TF
;
Lai, CS
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十二月-2003
High reliability ultrathin interpolyoxynitride dielectrics prepared by N2O plasma annealing
Wang, JC
;
Lee, JW
;
Kuo, LT
;
Lei, TF
;
Lee, CL
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1996
A high speed circuit scheme for driving field emission array
Lu, CW
;
Lee, CL
;
Huang, JM
;
交大名義發表
;
電子工程學系及電子研究所
;
National Chiao Tung University
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十月-1996
High-resolution MOS magnetic sensor with thin oxide in standard submicron CMOS process
Yang, HM
;
Huang, YC
;
Lei, TF
;
Lee, CL
;
Chao, SC
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-五月-2003
Highly reliable nickel silicide formation with a Zr capping layer
Lee, TL
;
Lee, JW
;
Lee, MC
;
Lei, TF
;
Lee, CL
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-六月-1997
Hydrogen and oxygen plasma effects on polycrystalline silicon thin films of various thicknesses
Liou, BW
;
Lee, CL
;
Lei, TF
;
Wu, YH
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-九月-1997
Identification of robust untestable path delay faults
Wu, WC
;
Lee, CL
;
Chen, JE
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-九月-1997
Identifying invalid states for sequential circuit test generation
Liang, HC
;
Lee, CL
;
Chen, JE
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-九月-1997
Identifying invalid states for sequential circuit test generation
Liang, HC
;
Lee, CL
;
Chen, JE
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-二月-2004
Improved characteristics of ultrathin CeO2 by using postnitridation annealing
Wang, JC
;
Hung, YP
;
Lee, CL
;
Lei, TF
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2005
Improvement of junction leakage by using a Zr cap layer on a 30 nm ultrashallow nickel-silicide junction
Lee, TL
;
Lee, MZ
;
Lei, TF
;
Lee, CL
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十月-1998
Improvement of reliability of metal-oxide semiconductor field-effect transistors with N2O nitrided gate oxide and N2O polysilicon gate reoxidation
Lai, CS
;
Chao, TS
;
Lei, TF
;
Lee, CL
;
Huang, TY
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十月-1998
Improvement of reliability of metal-oxide semiconductor field-effect transistors with N2O nitrided gate oxide and N2O polysilicon gate reoxidation
Lai, CS
;
Chao, TS
;
Lei, TF
;
Lee, CL
;
Huang, TY
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-九月-2001
Improvements in both thermal stability of Ni-silicide and electrical reliability of gate oxides using a stacked polysilicon gate structure
Lee, JW
;
Lin, SX
;
Lei, TF
;
Lee, CL
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1996
Invalid state identification for sequential circuit test generation
Liang, HC
;
Lee, CL
;
Chen, JE
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-1997
Investigation of the polarity asymmetry on the electrical characteristics of thin polyoxides grown on N+ polysilicon
Wu, SL
;
Chen, CY
;
Lin, TY
;
Lee, CL
;
Lei, TF
;
Liang, MS
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-五月-2001
Isolation on Si wafers by MeV proton bombardment for RF integrated circuits
Lee, LS
;
Liao, CP
;
Lee, CL
;
Huang, TH
;
Tang, DDL
;
Duh, TS
;
Yang, TT
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2004
Long-period fiber grating filter synthesis using evolutionary programming
Lee, CL
;
Lai, YC
;
光電工程學系
;
Department of Photonics