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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Wang, Tahui
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顯示 41 到 60 筆資料,總共 74 筆
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公開日期
標題
作者
1-九月-2006
Physics and characterization of various hot-carrier degradation modes in LDMOS by using a three-region charge-pumping technique
Cheng, Chih-Chang
;
Lin, J. F.
;
Wang, Tahui
;
Hsieh, T. H.
;
Tzeng, J. T.
;
Jong, Y. C.
;
Liou, R. S.
;
Pan, Samuel C.
;
Hsu, S. L.
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
八月-2016
Poly-Silicon Trap Position and Pass Voltage Effects on RTN Amplitude in a Vertical NAND Flash Cell String
Chou, Y. L.
;
Wang, Tahui
;
Lin, Mercator
;
Chang, Y. W.
;
Liu, Lenvis
;
Huang, S. W.
;
Tsai, W. J.
;
Lu, T. C.
;
Chen, K. C.
;
Lu, Chih-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-2016
Polycrystalline-Silicon Channel Trap Induced Transient Read Instability in a 3D NAND Flash Cell String
Tsai, Wen-Jer
;
Lin, W. L.
;
Cheng, C. C.
;
Ku, S. H.
;
Chou, Y. L.
;
Liu, Lenvis
;
Hwang, S. W.
;
Lu, T. C.
;
Chen, K. C.
;
Wang, Tahui
;
Lu, Chih-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2009
Program Charge Effect on Random Telegraph Noise Amplitude and Its Device Structural Dependence in SONOS Flash Memory
Chiu, J. P.
;
Chou, Y. L.
;
Ma, H. C.
;
Wang, Tahui
;
Ku, S. H.
;
Zou, N. K.
;
Chen, Vincent
;
Lu, W. P.
;
Chen, K. C.
;
Lu, Chih-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十一月-2009
Program Trapped-Charge Effect on Random Telegraph-Noise Amplitude in a Planar SONOS Flash Memory Cell
Ma, H. C.
;
Chou, Y. L.
;
Chiu, J. P.
;
Wang, Tahui
;
Ku, S. H.
;
Zou, N. K.
;
Chen, Vincent
;
Lu, W. P.
;
Chen, K. C.
;
Lu, Chih-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-四月-2012
Random Telegraph Noise in 1X-nm CMOS Silicide Contacts and a Method to Extract Trap Density
Chen, Min-Cheng
;
Lin, Chia-Yi
;
Chen, Bo-Yuan
;
Lin, Chang-Hsien
;
Huang, Guo-Wei
;
Ho, Chia-Hua
;
Wang, Tahui
;
Hu, Chenming
;
Yang, Fu-Liang
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
六月-2016
SET/RESET Cycling-Induced Trap Creation and SET-Disturb Failure Time Degradation in a Resistive-Switching Memory
Chung, Yueh-Ting
;
Su, Po-Cheng
;
Lin, Wen-Jie
;
Chen, Min-Cheng
;
Wang, Tahui
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2011
Silicide Barrier Engineering Induced Random Telegraph Noise in 1Xnm CMOS Contacts
Chen, Min-Cheng
;
Lin, Chia-Yi
;
Chen, Bo-Yuan
;
Lin, Chang-Hsien
;
Huang, Guo-Wei
;
Huang, Chien-Chao
;
Ho, ChiaHua
;
Wang, Tahui
;
Hu, Chenming
;
Yang, Fu-Liang
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2009
SONOS快閃記憶體中寫入電荷和元件結構對於隨機電報雜訊的影響
林東陽
;
Lin, Steven
;
汪大暉
;
Wang, Tahui
;
電子研究所
1-三月-2013
Statistical Characterization and Modeling of the Temporal Evolutions of Delta V-t Distribution in NBTI Recovery in Nanometer MOSFETs
Chiu, Jung-Piao
;
Liu, Yu-Heng
;
Hsieh, Hung-Da
;
Li, Chi-Wei
;
Chen, Min-Cheng
;
Wang, Tahui
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
5-十月-2009
Study of quantum confinement effects on hole mobility in silicon and germanium double gate metal-oxide-semiconductor field-effect transistors
Tang, Chun-Jung
;
Wang, Tahui
;
Chang, Chih-Sheng
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2015
TMD FinFET with 4 nm Thin Body and Back Gate Control for Future Low Power Technology
Chen, Min-Cheng
;
Li, Kai-Shin
;
Li, Lain-Jong
;
Lu, Ang-Yu
;
Li, Ming-Yang
;
Chang, Yung-Huang
;
Lin, Chang-Hsien
;
Chen, Yi-Ju
;
Hou, Yun-Fang
;
Chen, Chun-Chi
;
Wu, Bo-Wei
;
Wu, Cheng-San
;
Yang, Ivy
;
Lee, Yao-Jen
;
Shieh, Jia-Min
;
Yeh, Wen-Kuan
;
Shih, Jyun-Hong
;
Su, Po-Cheng
;
Sachid, Angada B.
;
Wang, Tahui
;
Yang, Fu-Liang
;
Hu, Chenming
;
電子物理學系
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electrophysics
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2010
Use of Random Telegraph Signal as Internal Probe to Study Program/Erase Charge Lateral Spread in a SONOS Flash Memory
Chou, Y. L.
;
Chiu, J. P.
;
Ma, H. C.
;
Wang, Tahui
;
Chao, Y. P.
;
Chen, K. C.
;
Lu, Chih-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-五月-2012
V-t Retention Distribution Tail in a Multitime-Program MLC SONOS Memory Due to a Random-Program-Charge-Induced Current-Path Percolation Effect
Chung, Yueh-Ting
;
Huang, Tzu-I
;
Li, Chi-Wei
;
Chou, You-Liang
;
Chiu, Jung-Piao
;
Wang, Tahui
;
Lee, M. Y.
;
Chen, Kuang-Chao
;
Lu, Chih-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-四月-2011
Variations of V(t) Retention Loss in a SONOS Flash Memory Due to a Current-Path Percolation Effect
Chou, Y. L.
;
Chung, Y. T.
;
Wang, Tahui
;
Ku, S. H.
;
Zou, N. K.
;
Chen, Vincent
;
Lu, W. P.
;
Chen, K. C.
;
Lu, Chih-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-四月-2011
Variations of V-t Retention Loss in a SONOS Flash Memory Due to a Current-Path Percolation Effect
Chou, Y. L.
;
Chung, Y. T.
;
Wang, Tahui
;
Ku, S. H.
;
Zou, N. K.
;
Chen, Vincent
;
Lu, W. P.
;
Chen, K. C.
;
Lu, Chih-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2016
三維NAND快閃記憶體隨機電報雜訊之特性探討
周佑亮
;
汪大暉
;
Chou, You-Liang
;
Wang, Tahui
;
電子工程學系 電子研究所
2015
不同介電質的平面式及閘極環繞式氮化矽快閃記憶體之寫入/抹除/保存模擬
蔡德宏
;
Tsai, Te-Hung
;
汪大暉
;
Wang, Tahui
;
電子工程學系 電子研究所
2009
先進互補式金氧半電晶體及氮化矽快閃式記憶元件之可靠度分析和蒙地卡羅模擬
唐俊榮
;
Tang, Chun-Jung
;
汪大暉
;
Wang, Tahui
;
電子研究所
2004
對於利用氮化矽局部電荷儲存之快閃記憶元件可靠度問題的探討
蔡文哲
;
Tsai, Wen-Jer
;
汪大暉
;
Wang, Tahui
;
電子研究所