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1989一功能層次之可測試性度量黃允熙; Huang, Yun-Xi; 李崇仁; Li, Chong-Ren; 電子研究所
1989一可測試性序向電路之合成系統吳維修; WU,WEI-XIU; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1986一對數位線硌之概率式可測性測量模式與程式黃渭濱; HUANG, WEI-BIN; 李崇仁; LI, CHONG-REN; 電子研究所
1989一序向電路之測試圖樣產生器梁新聰; LIANG,XIN-CONG; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1993一應用於靜態供電電流之內建式電流感應器鄭啟政; Chie-Cheng Cheng; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1986一種以路徑終止於停止線為法則的測試圖樣產生器莊世任; ZHUANG, SHI-REN; 李崇仁; LI, CHONG-REN; 電子研究所
1985一種新型互補式金氧半浮點乘加運算積體電路之設計葉儀皓; YE, YI-HAO; 沈文仁; 李崇仁; SHEN, WEN-REN; LI, CHONG-REN; 電子研究所
1989一階層式測試圖樣產生器楊景翔; YANG,JING-XIANG; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1980三種薄膜光電元件: M型分光器, 多膜分叉波導光強度調變器及改良全反射型光束偏轉器黃承好; Huang, Cheng-Hao; 李崇仁; Li, Chong-Ren; 光電工程學系
1991二氧化鈦薄膜之研究嚴昌生; YAN, CHANG-SHENG; 雷添福; 李崇仁; LEI, TIAN-FU; LI, CHONG-REN; 電子研究所
2000二氧化鋯氧化層之磁滯現象與直/交流可靠性研究喬世豪; Shih-Hao Chiao; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
2001二矽烷複晶矽薄膜及四氟化碳電漿預處理技術在製備薄氧化層之研究李介文; Jam Wem Lee; 李崇仁; 雷添福; Chung_Len Lee; Tan Fu Lei; 電子研究所
1995交換網路的測試與容錯設計林鴻文; Lin, Hung Wen; 李崇仁; Chung Len Lee; 電子研究所
1998以N2O氣體之快速加熱氮化於複晶矽氧化層及薄膜電晶體之研究高泉豪; Kao Chyuan-Haur; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
2005以交連線為中心加強系統晶片可測試性及良率之震盪環結構與演算法李淑敏; Katherine Shu-Min Li; 李崇仁; Prof. Chung Len Lee; 電子研究所
1992以內容地址記憶器架構且基於單ㄧ事件等效的序向障礙模擬林仲晟; Chung-Cheng Lin; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
1988以單極性函數理論推導功能測試及可測試性設計謝發忠; XIE, FA-ZHONG; 李崇仁; 沈文仁; LI, CHONG-REN; SHEN, WEN-REN; 電子研究所
2005以振盪信號測試超大型積體電路之串音障礙吳明學; Ming-Shae Wu; 李崇仁; Chung Len Lee; 電子研究所
2000以振盪環測試方式測試系統晶片環境下的內連線劉伯崧; Bor-Song Liu; 李崇仁; Chung-Len Lee; 電子研究所
2005以智財單元為基系統晶片設計之測試與可測試設計技術研究(II)李崇仁; 交通大學電子工程系
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