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瀏覽 的方式： 作者 溫宏斌

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公開日期標題作者
2007應用知識發現與資料探勘技術的功能性測試向量產生方法設計溫宏斌; Wen Hung-Pin; 國立交通大學電信工程學系(所)
2008應用資料探勘的有界時序電路等價驗證之加速方法設計張佳伶; Chang, Chia-Ling; 溫宏斌; Wen, Hung-Pin; 電信工程研究所
2010應用進階變異數縮減技術的蒙地卡羅軟性電子錯誤率分析吳欣恬; 溫宏斌; 電信工程研究所
2009準確的軟性錯誤率分析郭雨欣; 溫宏斌; 電信工程研究所
2011物件導向程式設計溫宏斌; Open Education Office; 開放教育推動中心
2014研究入門ABC：複眼思考與獨立研究溫宏斌
2013考慮溫度效應影響的統計型軟性電子錯誤率分析架構薛菘昀; Hsueh, Sung-Yun; 溫宏斌; Wen, Hung-Pin; 電信工程研究所
2015考量軟性電子錯誤率之電路布局強化劉宜武; 溫宏斌; Liu, Yi-Wu; Wen, Hung-Pin; 電機工程學系
2010計算機概論與程式設計溫宏斌; Open Education Office; 開放教育推動中心
2015軟性電子錯誤之進階效應分析-從元件層級到電路層級黃宣銘; Huang, Hsuan-Ming; 溫宏斌; 電機工程學系
1-八月-2014軟性電子錯誤防護裝置溫宏斌; 張竣惟
2017透過學習來預測擺置的可繞度方法研究陳俐瑾; 陳宏明; 溫宏斌; Chen, Li-Chin; Chen, Hung-Ming; Wen, Hung-Pin; 電機工程學系
2015適用於軟體定義之資料中心網路的低成本且可重構之雜帶式控制機制索成; 溫宏斌; Suo, Cheng; Wen, Hung-Pin; 電機工程學系
2009針對3D整合之電子設計自動化技術開發---子計畫五：應用在驗證與測試3D IC整合過程中以計算智慧為基礎的測試向量產生方法(I)溫宏斌; Wen Hung-Pin; 國立交通大學電信工程學系(所)
2010針對3D整合之電子設計自動化技術開發---子計畫五：應用在驗證與測試3D IC整合過程中以計算智慧為基礎的測試向量產生方法(II)溫宏斌; Wen Charles H.-P.; 國立交通大學電信工程學系（所）
2012針對奈米級CMOS設計電路提出考慮導線效應和老化效應的統計型軟性錯誤率分析的方法林玗璇; Lin, Yu-Hsuan; 溫宏斌; Wen, Hung-Pin; 電信工程研究所
2010針對開放式線段缺陷的診斷性自動測試向量產生器與其診斷流程設計陳彥后; Chen, Yan-Hou; 溫宏斌; Wen, Hung-Pin; 電信工程研究所
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