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公開日期標題作者
2012低功耗前瞻靜態隨機記憶體之測試方法與錯誤模型林政偉; Lin, Chen-Wei; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2014使用晶片內部硬體製程監控器作速度分級之最佳化技巧沈桓丞; Shen, Heng-Cheng; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2017使用機器學習技術進行動態電壓與頻率調整測試分級張耕瑋; 趙家佐; Chang, Keng-Wei; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2010利用掃描鏈重新排序增加橋接錯誤故障涵蓋率架構在低功率固定錯誤樣式填充郭淳仁; Kuo, Chun-Ren; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2016利用模型擬合方法預測環狀振盪器之臨界電壓變異數與靜態IR壓降黃子軒; 趙家佐; Huang, Tzu-Hsuan; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2010利用虛擬金屬填充提昇晶片中訊號可觀察性涂偉勝; Tu, Wei-Sen; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2014前瞻性嵌入式記憶體之錯誤模型與測試方法：業界實例探討楊皓宇; Yang, Hao-Yu; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2016前瞻性設計中解決性能及低功率議題的測試方法穆思邦; 趙家佐; Mu, Szu-Pang; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2016單元識別及雙單元識別測試之產生方法黃宇豪; 趙家佐; Huang, Yu-Hao; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2017基於佈局之雙單元識別測試產生方法吳則緯; 趙家佐; Wu, Tse-Wei; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2015基於類神經網絡平台利用製程監測反應晶片狀態林世豐; 趙家佐; Lin, Shih-Feng; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2012對基於寫入資料決定之操作輔助技術的靜態隨機存取記憶體進行開路缺陷之測試與分析比較黃欽遠; Huang, Chin-Yuan; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2012延續正反器之測試策略徐浩文; Hsu, Hao-Wen; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2013微調電路佈局以適合聚焦離子束技術陳昱安; Chen, Yu-An; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2013應用寫入輔助電路之低功耗雙埠靜態隨機記憶體之測試方法黃召穎; Huang, Chao-Ying; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2010測試次臨界電壓的靜態隨機存取記憶體的開路陳弘昕; Chen, Hung-Hsin; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2014瑕疵導向的工業用測試流程盧敬和; Lu, Ching-Ho; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
2010藉由更改電路佈局來增加聚焦離子束對訊號的探測能力與修正電路之能力陳擴安; Chen, Kuo-An; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2009解決工程改變中所產生之輸入扭轉違規與輸出負載違規張智為; Chang, Chih-Wei; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子研究所
2014降壓超頻測試： 藉由晶片的錯誤行為來預測系統層級錯誤郭士華; Kuo, Shih-Hua; 趙家佐; Chao, Chia-Tso; 電子工程學系 電子研究所
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