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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Guo, JC
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作者
2003
0.13 mu m low voltage logic based RF CMOS technology with 115GHz f(T) and 80GHz f(MAX)
Guo, JC
;
Huang, CH
;
Chan, KT
;
Lien, WY
;
Wu, CM
;
Sun, YC
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-五月-2004
0.13-mu m low-kappa-Cu CMOS logic-based technology for 2.1-Gb high data rate read-channel
Guo, JC
;
Lien, WY
;
Tsai, TL
;
Chen, SM
;
Wu, CM
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十二月-2004
0.13-mu m RF CMOS and varactors performance optimization by multiple gate layouts
Ho, CC
;
Kuo, CW
;
Chan, Y
;
Lien, WY
;
Guo, JC
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-三月-2006
A broadband and scalable model for on-chip inductors incorporating substrate and conductor loss effects
Guo, JC
;
Tan, TY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2005
A broadband and scalable model for on-chip inductors incorporating substrate and conductor loss effects
Guo, JC
;
Tan, TY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1995
Direct observation of the lateral nonuniform channel doping profile in submicron MOSFET's from an anomalous charge pumping measurement results
Chung, SS
;
Cheng, SM
;
Lee, GH
;
Guo, JC
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2005
A lossy substrate model for sub-100nm, super-100 GHz f(T) RF CMOS noise extraction and modeling
Guo, JC
;
Lin, YM
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2005
Low-power and high-linearity mixer design using complex transconductance equivalent circuit
Zhan, WC
;
Kuo, CN
;
Guo, JC
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1996
Mechanisms and characteristics of oxide charge detrapping in n-MOSFET's
Wang, TH
;
Chang, TE
;
Chiang, LP
;
Huang, CM
;
Guo, JC
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-二月-2006
A new lossy substrate de-embedding method for sub-100 nm RF CMOS noise extraction and modeling
Guo, JC
;
Lin, YM
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-八月-2004
Pocket implantation effect on drain current flicker noise in analog nMOSFET devices
Wu, JW
;
Cheng, CC
;
Chiu, KL
;
Guo, JC
;
Lien, WY
;
Chang, CS
;
Huang, GW
;
Wang, TH
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2004
A simple transmission line de-embedding method for accurate RF CMOS noise modeling
Guo, JC
;
Huang, CH
;
Lien, WY
;
Wu, CM
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics