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公開日期標題作者
1989一個並行圖樣延遲故障模擬器黃順達; HUANG,SHUN-DA; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1989一功能層次之可測試性度量黃允熙; HUANG,YUN-XI; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1989一可測試性序向電路之合成系統吳維修; WU,WEI-XIU; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1989一序向電路之測試圖樣產生器梁新聰; LIANG,XIN-CONG; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1989一階層式測試圖樣產生器楊景翔; YANG,JING-XIANG; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1989可測性計量輔助之序向電路測試圖樣產生器及部分掃描設計方法陳文斌; CHEN,WEN-BIN; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1989在單晶矽和複晶矽上成長的氧化層其特性之研究陳俊元; CHEN,JUN-YUAN; 李崇仁; 雷添福; LI,CHONG-REN; LEI,TIAN-FU; 電子研究所
1989多值邏輯之故障測試王慧民; WANG,HUI-MIN; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1989延遲障礙之障礙模擬蔡輝煌; CAI,HUI-HUANG; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1989形成超淺接面在使用非晶矽晶複晶矽和矽化鈦做固態擴散源廖忠志; LIAO,ZHONG-ZHI; 李崇仁; 雷添福; LI,CHONG-REN; LEI,TIAN-FU; 電子研究所
1989擴散障壁對於鈀鍺在N-型砷化鎵歐姆接觸熱穩定性之影響黃文昌; HUANG,WEN-CHANG; 李崇仁; 雷添福; LI,CHONG-REN; LEI,TIAN-FU; 電子研究所
1989數位電路中延遲故障之可測試性度量吳文慶; WU,WEN-QING; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1989橢圓測厚儀量測金屬性薄膜之光學常數及厚度顏瑛慈; YAN,YING-CI; 李崇仁; 雷添福; LI,CHONG-REN; LEI,TIAN-FU; 電子研究所
1989薄絕緣閘層場效電晶體特性之研究方惠加; FANG,HUI-JIA; 李崇仁; 雷添福; LI,CHONG-REN; LEI,TIAN-FU; 電子研究所
1989階層式測試圖樣產生方法王玲玲; WANG,LING-LING; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子研究所
1990高品質的金蕭基二極體之研究林世欽; LIN,SHI-QIN; 李崇仁; LI,CHONG-REN; 電子物理系所
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