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標題: 鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法
Fault Modeling and Test Methods for FinFET Ciricuits
作者: 趙家佐
Chao Mango Chia-Tso
國立交通大學電子工程學系及電子研究所
公開日期: 2014
官方說明文件#: NSC102-2221-E009-187-MY3
URI: http://hdl.handle.net/11536/100584
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=8107291&docId=428773
顯示於類別：研究計畫


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