鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法

標題:	鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法 Fault Modeling and Test Methods for FinFET Ciricuits
作者:	趙家佐 Chao Mango Chia-Tso 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
公開日期:	2014
官方說明文件#:	NSC102-2221-E009-187-MY3
URI:	http://hdl.handle.net/11536/100584 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=8107291&docId=428773
顯示於類別：	研究計畫

APA	趙., & Chao M. Chia-Tso (2014). 鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法. https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=8107291&docId=428773.
Bibtex	@article{2014鰭狀場效電晶體, title={鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法}, author={趙家佐 and Chao Mango Chia-Tso}, journal={https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=8107291&docId=428773}, year={2014}, url={https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/100584}, }