標題: | 鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法 Fault Modeling and Test Methods for FinFET Ciricuits |
作者: | 趙家佐 Chao Mango Chia-Tso 國立交通大學電子工程學系及電子研究所 |
公開日期: | 2014 |
官方說明文件#: | NSC102-2221-E009-187-MY3 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/100584 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=8107291&docId=428773 |
顯示於類別: | 研究計畫 |