鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法

標題:	鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法 Fault Modeling and Test Methods for FinFET Ciricuits
作者:	趙家佐 Chao Mango Chia-Tso 國立交通大學電子工程學系及電子研究所
公開日期:	2014
官方說明文件#:	NSC102-2221-E009-187-MY3
URI:	http://hdl.handle.net/11536/100584 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=8107291&docId=428773
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