標題: | 熱成長氮化矽膜的製作及應用 |
作者: | 張俊明 Zhang, Zun-Ming 吳慶源 Wu, Qing-Yuan 電子研究所 |
關鍵字: | 熱成長氮化矽膜;製作及應用;電子工程;ELECTRONIC-ENGINEERING |
公開日期: | 1980 |
摘要: | 本文利用氨氣與矽單晶的直接反應,成功地在高溫下成長高品質的氮化矽膜,並完 成數種熱成長氮化矽膜的重要應用。 在製作過程中,氟酸及氫氣成功地用來去除矽晶片表面自然成長的氧化薄膜,並藉 此獲得高品質的氮化矽膜。實驗結果發現,攝氏五百度至一千兩百度成長的均勻氮 化矽膜,其厚度雖小於一百埃,但對氧化、化學藥劑及磷擴散的抵抗能力甚強,且 其介電常數比傳統的氧化矽膜大。 本文利用五十埃的熱成長氮化矽膜作為閘極絕緣層材料,亦成功地研製出低臨界電 壓的 n -通道金-絕-半電晶體; 並且,藉熱成長氮化矽膜的自限特性,成功地 發展完成品質良好且易於複製的金-絕-矽開關元件及金-絕-半太陽電池。 #2811435 #2811435 |
URI: | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT694430023 http://hdl.handle.net/11536/51389 |
Appears in Collections: | Thesis |