超大型積體組合電路自動測試圖樣產生系統

Abstract

本篇論文針對超大型積體組合電路，研製一個很有效率的自動測試圖樣產生系統。這 個系統有三個可供使用者選擇的測試圖樣產生器，用來自動產測試圖樣，而且使用一 個很有效率的故障模擬器來評估故障涵蓋率（Fault Coveraga）。三個測試圖樣產生 器分別是：一個使用線性迴授移位暫存器（LFSR）所做成的隨機圖樣產生器，一個虛 隨機圖樣產生器（DISRUPT ），一個改良的具有動態壓縮（Dynamic Compaction）能 力的決定性測試圖樣產生器（SLOPE１ ）。藉著和故障模擬器緊密的結合，這個系統 產生較短的測試圖樣長度，達到更高的故障涵蓋率。