標題: 超大型積體組合電路自動測試圖樣產生系統
作者: 江勝昌
JIANG, SHENG-CHANG2
李崇仁
沈文仁
LI, CHONG-REN
SHEN, WEN-REN
電子研究所
關鍵字: 超大型積體;組合電路;自動測試圖樣;圖樣產生系統;故障涵蓋率;線性迴授移位暫存;動態壓縮;FAULT-COVERAGE;DYNAMIC-COMPACTION
公開日期: 1987
摘要: 本篇論文針對超大型積體組合電路,研製一個很有效率的自動測試圖樣產生系統。這 個系統有三個可供使用者選擇的測試圖樣產生器,用來自動產測試圖樣,而且使用一 個很有效率的故障模擬器來評估故障涵蓋率(Fault Coveraga)。三個測試圖樣產生 器分別是:一個使用線性迴授移位暫存器(LFSR)所做成的隨機圖樣產生器,一個虛 隨機圖樣產生器(DISRUPT ),一個改良的具有動態壓縮(Dynamic Compaction)能 力的決定性測試圖樣產生器(SLOPE1 )。藉著和故障模擬器緊密的結合,這個系統 產生較短的測試圖樣長度,達到更高的故障涵蓋率。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT762430038
http://hdl.handle.net/11536/53424
顯示於類別:畢業論文