标题: | 超大型積體電路之測試與可測試設計 VLSI Testing and Design for Testability |
作者: | 李崇仁 交通大學電子工程系 |
关键字: | 超大型積體電路;可測試性設計;靜態電流測試;振盪環測試;錯誤診斷;VLSI;IDDQ testing;Burn-in testing;Oscillation ring testing;Fault diagnosis |
公开日期: | 1999 |
官方说明文件#: | NSC88-2215-E009-062 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/94228 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=418219&docId=74193 |
显示于类别: | Research Plans |
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