标题: 超大型積體電路之測試與可測試設計
VLSI Testing and Design for Testability
作者: 李崇仁
交通大學電子工程系
关键字: 超大型積體電路;可測試性設計;靜態電流測試;振盪環測試;錯誤診斷;VLSI;IDDQ testing;Burn-in testing;Oscillation ring testing;Fault diagnosis
公开日期: 1999
官方说明文件#: NSC88-2215-E009-062
URI: http://hdl.handle.net/11536/94228
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=418219&docId=74193
显示于类别:Research Plans


文件中的档案:

  1. 882215E009062.pdf

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